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+ + + Herzlich willkommen bei der ASMEC GmbH + + +
Seit Ende 2015 sind die bisherigen ASMEC Produkte Teil des Produktportfolios der Zwick GmbH & Co. KG in Ulm.
ASMEC bleibt Ihr Vertriebs− und Servicepartner für alle Maschinen vom Typ UNAT.
Informationen zum neuen Nanomechanischen Tester ZHN von ZwickRoell finden Sie hier: ZHNzur Webseite ZHN
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Der Universelle Nanomechanische Tester ZHNDer Universelle Nanomechanische Tester ZHN ist eine Weiterentwicklung der bewährten Technik von ASMEC die unter dem Namen UNAT verkauft wurde. Durch seine hohe Modularität ist er ist mehr als ein Nanoindenter oder Härteprüfer. Je nach Ausbaustufe kann er genutzt werden Mit einem Messkopf als:
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 Auswahl-Menü für vordefinierte Applikationen |
Mit einem zweiten Messkopf für laterale Kraft−Verschiebungs−Kurven als:
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Besondere Merkmale des Gerätes, die es von anderen Geräten auszeichnen, sind:
- Sehr hohes Signal−zu−Rausch−Verhältnis von etwa 106 : 1, so dass auch bei Messungen mit 2 N Messkopf eine ausgezeichnete Auflösung erreicht wird.
- Äußerst robuster Messkopf mit großer Toleranz gegen Überlastung durch Nutzung induktiver Wegsensoren ohne Anschlag und ein steifes Federsystem. Dies ermöglicht:
- Einen sehr schnellen Spitzenwechsel ohne zusätzliche Schutzmaßnahmen
- Die Verwendung von beliebigen Prüfkörpern und Adaptern mit dem bis zu 10−fachen Gewicht der Diamantspitzen
- Einfach zu montierende Schaftverlängerungen erlauben Messungen in Vertiefungen oder Flüssigkeiten
- Gleiche Funktionsweise in Druck− und Zugrichtung. Dadurch kann das Gerät auch als Mikro−Zugprüfer verwendet werden
- Sehr steife Rahmenkonstruktion bei der die Indenterachse direkt unter der Bewegungsachse der Höhenverstellung sitzt. Dadurch gibt es kein Kippmoment beim Aufbringen der Kraft.
- Modularer Aufbau bei dem Messköpfe für verschiedene Kraftbereiche (0,2 N; 2 N; 20 N) durch den Nutzer selbst ohne Schwierigkeiten ausgetauscht werden können unter Verwendung der gleichen Steckverbinder.
- Die einzigartige und patentierte Lateralkrafteinheit erlaubt sehr präzise Messungen lateraler Kraft−Verschiebungs−Kurven, die mit keinem anderen Gerät möglich sind. So können laterale Steifigkeiten oder Stick−Slip Effekte bei Reibversuchen und vieles mehr untersucht werden. Durch die Kombination der zwei Messkopfe können Belastungen, die in Anwendungen auftreten, wesentlich besser im Labor simuliert werden.
- Serienmäßiger Probenhalter mit 5 Plätzen für verschieden hohe Proben und einem Anschluss zur Messung des Kontaktwiderstands zwischen Spitze und Probe (bei Verwendung von leitfähigem Diamant oder anderen Indentermaterialien)
- Sehr großer Verfahrweg von 70 mm in Z−Richtung, so dass auch sehr hohe Proben vermessen werden können. Ohne den zweiten Messkopf (LFU) lassen sich auch große Proben mit über 20 cm Höhe und 50 cm Länge adaptieren. Der große Bauraum lässt genug Platz für Zusatzeinrichtungen.
- Einzigartige Optik mit sehr hoher Vergrößerung bis 3250−fach (76 nm pro Pixel) und der Verwendung von zwei Kameras für verschiedene Vergrößerungen, so dass die Vergrößerung ohne Drehen eines Objektivrevolvers bei hoher Positionstreue umgeschaltet werden kann.
- Spezielles Tip Check Modul für den täglichen Test des Gerätezustands beispielsweise innerhalb eines Qualitätssicherungssystems. Es nutzt eine permanent installierte Quarzglasprobe an einem separaten Ort so dass keine Probe gewechselt werden muss. Die Software vermerkt in einer Datenbank wo bereits Messungen durchgeführt wurden.
- Äußerst präzise Routinen zur Bestimmung der Flächenfunktion oder der Radiusfunktion bei kugelförmigen Spitzen und der Funktion der Gerätesteife (es wird nicht nur ein kraftunabhängiger Wert verwendet). Als einziges Gerät lässt es die Bestimmung der Flächenfunktion mit zwei Materialien gleichzeitig zu, um eine Materialabhängigkeit auszuschließen.
- Ein präzises optionales Dynamikmodul erlaubt die Überlagerung von Schwingungen bis 300 Hz und die Messung von Amplituden und Phasenverschiebungen. Die kontinuierliche oder quasi−kontinuierliche Messung der Kontaktsteife ermöglicht eine tiefenabhängige Bestimmung von Härte− und E−Modul schon ab Tiefen von 10 nm. Einzigartig ist der große Amplitudenbereich bis über 50 mN so dass das Gerät für Ermüdungstests eingesetzt werden kann.
- Eine Vielzahl von Zusatzmodulen sind verfügbar wie beispielsweise
- Weißlichtinterferometer (optisches Profilometer)
- Atomkraftmikroskop (AFM)
- Probenheizer bis 400 °C
- Probenkühler bis −10 °C